[发明专利]一种基于芯片电磁兼容测试的复位方法、装置及系统在审
| 申请号： | 202211031515.9 | 申请日： | 2022-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN115357107A | 公开（公告）日： | 2022-11-18 |
| 发明（设计）人： | 朱伟;李建忠;赵星;李彬鸿;王云;薛静;叶甜春 | 申请（专利权）人： | 广东省大湾区集成电路与系统应用研究院 |
| 主分类号： | G06F1/24 | 分类号： | G06F1/24;G06F11/14 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 何卿华 |
| 地址： | 510535 广东省广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于芯片电磁兼容测试的复位方法、装置及系统，该方法包括：当完成电磁兼容测试，被测芯片失效时，进行初始化配置；在完成初始化配置后，检测是否接收到上位机的复位控制指令；当接收到上位机的复位控制指令时，根据所述复位控制指令，获取被测芯片复位所需的复位通道、复位持续时间和复位电压值；根据所述复位通道、所述复位持续时间和所述复位电压值，向被测芯片输出复位控制信号。采用本发明实施例，通过判断并接收上位机的复位控制指令，实现对被测芯片对应的复位通道，按复位持续时间和复位电压值输出复位控制信号，以使被测芯片满足复位条件，实现针对需要通过控制引脚恢复的失效芯片的自动复位。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 芯片 电磁 兼容 测试 复位 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
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