[发明专利]一种磁取向下液晶材料的毫米波介电性能测试装置及方法在审
| 申请号： | 202211041225.2 | 申请日： | 2022-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN115453210A | 公开（公告）日： | 2022-12-09 |
| 发明（设计）人： | 余承勇;程锦;龙嘉威;李恩;高冲;高勇;张云鹏;郑虎 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;H01P7/10 |
| 代理公司： | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人： | 吴姗霖 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： |
本发明的目的在于提供一种磁取向下液晶材料的毫米波介电性能测试装置，属于微波测试技术领域。本发明装置设计了装载液晶材料的液晶盒，并创新性地使用多层介质构成的上下对称型TM |
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| 搜索关键词： | 一种 向下 液晶 材料 毫米波 性能 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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