[发明专利]并发测试方法、装置、存储介质及计算机设备在审
| 申请号： | 202211056633.5 | 申请日： | 2022-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN115328802A | 公开（公告）日： | 2022-11-11 |
| 发明（设计）人： | 张友璇 | 申请（专利权）人： | 广州品唯软件有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 刘晓娟 |
| 地址： | 510000 广东省广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种并发测试方法、装置、存储介质及计算机设备，所述方法包括：在监听到待测试应用中目标函数被调用的情况下，判断所述目标函数的本次调用是否满足并发测试规则，该目标函数为方法调度类的调用函数；若所述目标函数的本次调用满足所述并发测试规则，则获取所述目标函数在本次调用中的目标入参，并在响应所述目标函数的本次调用之前，根据所述目标入参创建多个线程，使得每个线程以所述目标入参作为传入参数调用所述目标函数，以得到所述待测试应用的并发测试结果。采用本申请的方案可以使得待测试应用基于相同的参数重复执行，进而可根据重复执行的结果得到待测试应用的并发测试结果，该并发测试结果反映了待测试应用的幂等性。 | ||
| 搜索关键词： | 并发 测试 方法 装置 存储 介质 计算机 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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