[发明专利]一种核用EPDM密封圈寿命评估方法在审

专利信息
申请号: 202211058326.0 申请日: 2022-08-30
公开(公告)号: CN115127987A 公开(公告)日: 2022-09-30
发明(设计)人: 周城;杨刚;陈夏 申请(专利权)人: 中广核三角洲(太仓)检测技术有限公司
主分类号: G01N17/00 分类号: G01N17/00
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 陈昊宇
地址: 215499 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种核用EPDM密封圈寿命评估方法,包括:调节老化试验箱内的目标温度为a1,每隔一单位时间取出一老化样品;测试原始样品与各老化样品的压缩应力松弛数值,计算各老化样品的CSR;拟合得到老化时间的值τCSRa1,老化温度TCSRa1;重复操作,分别得到其他温度的τCSRa2、τCSRa3……τCSRan及TCSRa2、TCSRa3……TCSRan;然后,将τCSRa1、τCSRa2、τCSRa3……τCSRan与TCSRa1、TCSRa2、TCSRa3……TCSRan作lnτ与1/T的坐标图,拟合得到使用寿命和热氧加辐照老化温度的线性函数。本发明可对核用密封圈的热氧老化、热辐照老化状态有效评估。
搜索关键词: 一种 epdm 密封圈 寿命 评估 方法
【主权项】:
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