[发明专利]量子芯片的测试方法、装置以及量子计算机有效
| 申请号： | 202211059561.X | 申请日： | 2022-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN115144736B | 公开（公告）日： | 2022-12-06 |
| 发明（设计）人： | 赵勇杰;赵杨超 | 申请（专利权）人： | 合肥本源量子计算科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06N10/70 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市高新*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种量子芯片的测试方法、装置以及量子计算机，利用量子芯片中的可调耦合器作为中转媒介，首先获取第一量子比特的第一量子态控制线与第一频率控制线之间的第一相对延时，然后获取第一量子比特的第一量子态控制线与可调耦合器的第三频率控制线之间的第三相对延时，然后利用获取到的第一相对延时和第三相对延时直接获取第一频率控制线与第三频率控制线的第五相对延时，本申请的方案无需两量子比特逻辑门的参与，有效提高了量子芯片的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 量子 芯片 测试 方法 装置 以及 计算机 | ||
【主权项】：
暂无信息
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