[发明专利]显微深度聚焦测量中镜头光轴与纵向运动轴夹角的校正方法在审
| 申请号： | 202211064097.3 | 申请日： | 2022-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN115468747A | 公开（公告）日： | 2022-12-13 |
| 发明（设计）人： | 王跃宗;贾鹏煊;贾皓然;陈可欣 | 申请（专利权）人： | 北京工业大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G02B21/02;G06T7/73 |
| 代理公司： | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人： | 刘萍 |
| 地址： | 100124 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种显微深度聚焦测量中镜头光轴与纵向运动轴夹角的校正方法，包含显微视觉系统、平面标定板、阶梯状三维标定物的光轴校正装置，首先通过平面标定板多聚焦图像序列的采集与分析对载物台进行初校正。然后基于多个模块对三维标定物阶梯分界线处不同平面的两图像进行采集与分析，通过检测两图像中阶梯分界线的相对偏移实现显微镜光轴的校正。本发明可以有效减小显微视觉系统采集得到多聚焦图像序列的偏移误差，提高深度聚焦三维重建的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 显微 深度 聚焦 测量 镜头 光轴 纵向 运动 夹角 校正 方法 | ||
【主权项】：
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