[发明专利]一种基于UIS的SiC芯片测试方法在审
| 申请号： | 202211067058.9 | 申请日： | 2022-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN115389897A | 公开（公告）日： | 2022-11-25 |
| 发明（设计）人： | 陈鸿骏;杨程;王毅;赵耀;刘圣前;万胜堂;王正 | 申请（专利权）人： | 扬州扬杰电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 扬州市苏为知识产权代理事务所(普通合伙) 32283 | 代理人： | 郭翔 |
| 地址： | 225008 江苏省扬*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： |
一种基于UIS的SiC芯片测试方法。涉及一种半导体器件测试方法。包括以下步骤：S100，将待测的碳化硅功率器件进行电性检测，然后从电性检测合格的产品中选取若干只碳化硅功率器件在常温下分别进行UIS极限能力测试，测试出相应的UIS极限能力值，并计算平均UIS极限能力测试值，记作E |
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| 搜索关键词： | 一种 基于 uis sic 芯片 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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