[发明专利]一种余压探测器的测试系统在审

专利信息
申请号: 202211072756.8 申请日: 2022-09-02
公开(公告)号: CN115452248A 公开(公告)日: 2022-12-09
发明(设计)人: 李佳伟;裴善勇;刘丙言;王云涛;奚焕君;吴若菡;阳帆;杨浩 申请(专利权)人: 安科瑞电气股份有限公司;江苏安科瑞电器制造有限公司
主分类号: G01L27/00 分类号: G01L27/00
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 应小波
地址: 201801 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种余压探测器的测试系统,用于对余压探测器进行曲线升压检测,所述的测试系统包括气压产生装置、气压调节装置、恒定气压室、探测器放置治具、总控电路和上位机;所述的气压产生装置连接恒定气压室,为其提供气压;所述的气压调节装置连接恒定气压室,用于调节其内的气压;待检测的所述余压探测器置于探测器放置治具上,连接恒定气压室并探测其内的气压;所述的余压探测器的探测数据通过总控电路传输至上位机,所述的上位机的控制命令通过总控电路传输至气压产生装置和气压调节装置。与现有技术相比,本发明具有加压送风自动化,提高测试效率,降低成本等优点。
搜索关键词: 一种 探测器 测试 系统
【主权项】:
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