[发明专利]连续在轨标校测量数据拟合插值使用方法及系统在审
| 申请号： | 202211095532.9 | 申请日： | 2022-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN116303735A | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 陈占胜;方厚招;曲耀斌;成飞;任三孩;陈力;陈修桥;邓武东;黄业平;刘政 | 申请（专利权）人： | 上海卫星工程研究所;中国人民解放军63921部队 |
| 主分类号： | G06F16/26 | 分类号： | G06F16/26;G01B21/32;G06F17/18 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 韩成玲 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种连续在轨标校测量数据拟合插值使用方法，包括以下步骤：步骤S1：将连续在轨标校测量数据图形化处理，获取长时间角度测量曲线；步骤S2：根据长时间角度测量曲线的峰峰值的平均值确定采样点的插值参数；步骤S3：根据确定的采样点插值参数获取插值曲线；步骤S4：重复步骤S1‑步骤S3进行多次测量获取多个插值曲线；步骤S5：将多次测量获取的插值曲线进行拟合，得到最终大样本插值曲线。本发明方法简单，适用范围更广，适用于长时间多次测量的数据处理的多种场景。 | ||
| 搜索关键词： | 连续 轨标校 测量 数据 拟合 使用方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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