[发明专利]OTP存储器及其操作方法、工艺方法在审

专利信息
申请号: 202211097667.9 申请日: 2022-09-08
公开(公告)号: CN115605023A 公开(公告)日: 2023-01-13
发明(设计)人: 陈耿川 申请(专利权)人: 芯合半导体公司
主分类号: H10B20/25 分类号: H10B20/25;G11C17/16;G11C17/18
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 顾丹丽
地址: 中国香港西营盘正*** 国省代码: 香港;81
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摘要: 发明涉及一种OTP存储器及其操作方法、工艺方法。所述OTP存储器中,OTP存储单元的源端Ldd区和源区之间形成PN结,该PN结在对所述OTP存储单元编程时被击穿,能够实现一次性编程功能,而且电路布局简洁,有助于缩小芯片面积,降低成本。所述工艺方法在半导体基底表面区域同步形成所述OTP存储器的OTP存储单元以及MOS晶体管,降低了OTP存储器的制作难度,成本低,便于量产。
搜索关键词: otp 存储器 及其 操作方法 工艺 方法
【主权项】:
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