[发明专利]多块NVME SSD高低温测试方法及系统在审
| 申请号： | 202211112050.X | 申请日： | 2022-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN115794501A | 公开（公告）日： | 2023-03-14 |
| 发明（设计）人： | 罗恒毅;弗兰克·陈;李炎林;马小平;熊小明 | 申请（专利权）人： | 至誉科技（武汉）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G11C29/56 |
| 代理公司： | 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人： | 敖俊 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新技术*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多块NVME SSD高低温测试方法及系统，方法包括以下步骤：通过上位机获取NVME SSD测试项目；控制执行NVME SSD和系统链路连接测试操作，获取连接测试结果；当NVME SSD和系统链路连接测试通过后，控制通过下位机治具的插槽插接NVME SSD并执行NVME SSD测试项目，获取NVME SSD测试结果，并进行结果分类和显示(成功和失败，显示失败原因)。本申请通过上位机和下为机通信的方式，多台下位机通过PCIE Switch及其治具可以同时对多块NVME SSD进行正常读写测试、掉电上电读写测试、高低温压力测试，有效保证NVME SSD产品质量、提升产品生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | nvme ssd 低温 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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