[发明专利]一种基于随机抽样一致性的光谱漂移标定与校正方法在审

专利信息
申请号: 202211112891.0 申请日: 2022-09-14
公开(公告)号: CN115586143A 公开(公告)日: 2023-01-10
发明(设计)人: 刘向锋;徐卫明;舒嵘;贾良辰;许学森 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G01N21/27 分类号: G01N21/27
代理公司: 上海沪慧律师事务所 31311 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种基于随机抽样一致性的光谱漂移标定与校正方法,方法包括以下步骤:(1)光谱仪首次测量目标的光谱作为参考光谱,获得光谱的像元到波长的转换模型及系数;(2)光谱仪再次测量目标的光谱作为测量光谱,识别测量光谱中特征谱线的谱峰位置作为观测像元序列;(3)选取参考像元序列与观测像元序列间能满足条件的最大概率局内点,作为测量特征谱线与参考特征谱线的相匹配谱线;(4)计算匹配谱线间的像元差,将平均值作为光谱漂移量;(5)使用光谱漂移量来改正测量光谱的像元序列;(6)利用绝对平均值和均方根定量描述校正波长精度。本发明能快速自动识别测量光谱与参考光谱间的像元漂移量,准确性好,鲁棒性强,易操作。
搜索关键词: 一种 基于 随机 抽样 一致性 光谱 漂移 标定 校正 方法
【主权项】:
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