[发明专利]处理器性能分析方法、装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202211119293.6 | 申请日： | 2022-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN115470739A | 公开（公告）日： | 2022-12-13 |
| 发明（设计）人： | 陈昊文;刘东启;蒋昭 | 申请（专利权）人： | 平头哥（上海）半导体技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/331 | 分类号： | G06F30/331;G06F30/337;G06F30/398 |
| 代理公司： | 北京合智同创知识产权代理有限公司 11545 | 代理人： | 李杰;闫喜鹏 |
| 地址： | 201208 上海市浦东新区中国（上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供了一种处理器性能分析方法、装置、电子设备和存储介质，本方案适用于对包括CISC指令集、RISC精简指令集(特别是RISC‑V指令集)或VLIM指令集架构的各种处理器进行性能分析，比如对CPU、物联网芯片、音/视频芯片等进行性能分析。该处理器性能分析方法包括：获取对处理器进行仿真验证过程中产生的波形数据；根据预先设定的波形匹配规则，对所述波形数据进行处理，获得处理器事件信息和处理器行为信息；根据所述处理器事件信息和所述处理器行为信息，分别生成用于对所述处理器进行性能分析的可交互图。本方案能够提高对处理器性能进行分析的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 处理器 性能 分析 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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