[发明专利]大型工件X射线检测设备在审
| 申请号： | 202211125663.7 | 申请日： | 2022-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN115219529A | 公开（公告）日： | 2022-10-21 |
| 发明（设计）人： | 李秋平;黃琼光 | 申请（专利权）人： | 深圳市伟铭光电有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;B65G15/20;B65G47/248;B65G23/44 |
| 代理公司： | 深圳市江凌专利代理事务所(普通合伙) 44814 | 代理人： | 左涛 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了大型工件X射线检测设备，涉及X射线检测装置技术领域。包括工件上料机构、工件检测机构和工件下料机构，工件上料机构、工件检测机构和工件下料机构依次布设，通过工件上料机构对大型工件进行逐一上料并输送至工件检测机构处，通过工件检测机构对大型工件进行翻转检测，然后将完成检测后的大型工件输送至工件下料机构处，通过工件下料机构对工件进行逐一下料，本申请能够针对圆柱形的大型工件进行自动化上料、自动化检测并下料。 | ||
| 搜索关键词： | 大型 工件 射线 检测 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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