[发明专利]一种静止轨道微波辐射计天线发射率在轨标定方法及系统在审

专利信息
申请号: 202211155180.1 申请日: 2022-09-22
公开(公告)号: CN115542222A 公开(公告)日: 2022-12-30
发明(设计)人: 李向芹;谢振超;吴涛;于雨;李雪;杨永键;李贝贝;王芸 申请(专利权)人: 上海航天测控通信研究所
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G01R29/10
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 胡晶
地址: 201109 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种静止轨道微波辐射计天线发射率在轨标定方法,包括:根据所述微波辐射计天线三个反射面的传输方程计算天线级联反射面传输方程;根据馈电口面两点定标方程和所述天线级联反射面传输方程,获取天线级联链路微波损耗方程;采用天线温控系统,分别将天线三个反射面同时刻温度梯度控制到目标值,采用温控系统获取两组天线反射面温度状态对应的线级联损耗基于天线级联链路微波损耗方程和物理温度对应谱功率密度公式,计算天线三个反射面表面反射率与工作表面温度函数关系参数。实现天线自辐射在轨实时校正,微波辐射计在轨进行全冷空观测,精确获取天线反射率及其随温度变化函数。
搜索关键词: 一种 静止 轨道 微波 辐射计 天线 发射 标定 方法 系统
【主权项】:
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