[发明专利]一种基于TensorRT加速推理的芯片缺陷检测方法及系统在审
| 申请号： | 202211155766.8 | 申请日： | 2022-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN115423796A | 公开（公告）日： | 2022-12-02 |
| 发明（设计）人： | 张恒;赵洪坪;杭芹;程成;何云玲;郭家新 | 申请（专利权）人： | 重庆邮电大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T3/40;G06V10/77;G06V10/774;G06V10/82;G06N3/04;G06N3/08;G06N5/04 |
| 代理公司： | 重庆辉腾律师事务所 50215 | 代理人： | 卢胜斌 |
| 地址： | 400065 重*** | 国省代码： | 重庆;50 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明属于芯片缺陷检测技术领域，具体涉及一种基于TensorRT加速推理的芯片缺陷检测方法及系统；该方法包括：获取芯片图像数据集并对其进行预处理；使用芯片图像数据集对改进YOLOv5模型进行训练，得到多个目标检测模型；将所有目标检测模型转换成TensorRT模型并将TensorRT模型拼接；采用拼接后的TensorRT模型对待检测芯片图像进行处理，得到推理结果；对推理结果进行降维和去冗余处理，得到待检测芯片的缺陷检测结果；本发明根本上解决现有设备质检速度与精度上的不足，检测效率更高、速度更快，节约了人力成本，实用性高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 tensorrt 加速 推理 芯片 缺陷 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆邮电大学，未经重庆邮电大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202211155766.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
