[发明专利]一种ITO/Ag/ITO薄膜结构的制备方法在审

专利信息
申请号: 202211180490.9 申请日: 2022-09-27
公开(公告)号: CN115505875A 公开(公告)日: 2022-12-23
发明(设计)人: 陈溢杭;郭志达;董剑楠;吴栋;张飞连 申请(专利权)人: 华南师范大学
主分类号: C23C14/08 分类号: C23C14/08;C23C14/18;C23C14/34
代理公司: 广州骏思知识产权代理有限公司 44425 代理人: 张金龙
地址: 510006 广东省广州市番禺区*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种ITO/Ag/ITO薄膜结构的制备方法,包括以下步骤:提供基片、ITO靶材和Ag靶材;对基片进行清洗处理;采用ITO靶材,按照预设的ITO薄膜镀膜参量,调节成膜腔室内的镀膜环境,在通入工作气体和溅射温度为650℃‑700℃下,于基片上镀第一ITO薄膜层;采用Ag靶材,按照预设的Ag薄膜镀膜参量,调节成膜腔室内的镀膜环境,在通入工作气体和溅射温度为室温的溅射温度下,于第一ITO薄膜层上镀Ag薄膜层;采用ITO靶材,按照预设的ITO薄膜镀膜参量,调节成膜腔室内的镀膜环境,通入工作气体和溅射温度为室温的溅射温度下,于Ag薄膜层上镀第二ITO薄膜层,得到ITO/Ag/ITO薄膜结构。本发明能够提高薄膜结构的载流子浓度以及ENZ位置蓝移,使得ITO的ENZ特性可以在更短波段处得到应用。
搜索关键词: 一种 ito ag 薄膜 结构 制备 方法
【主权项】:
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