[发明专利]电子设备的检测方法、系统、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202211186452.4 | 申请日： | 2022-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN115480972A | 公开（公告）日： | 2022-12-16 |
| 发明（设计）人： | 穆元春;赵晶晶;贾向阳;蒋源 | 申请（专利权）人： | 高创（苏州）电子有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京志霖恒远知识产权代理有限公司 11435 | 代理人： | 郭栋梁 |
| 地址： | 215200 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种电子设备的检测方法、系统、电子设备及存储介质。其中，电子设备的检测方法，包括：在电子设备首次启动时，获得电子设备中关键部件的实际部件信息；根据预先约定的访问方式，从电子设备中目标存储区域中获得关键部件的预存部件信息，其中，预存部件信息是所述电子设备出厂时预先写入目标存储区域的；根据实际部件信息和预存部件信息，确定电子设备的关键部件是否异常。本申请实施例，可以避免用户购买的为山寨或者二手的电子设备，保证了电子设备为全新的电子产品。 | ||
| 搜索关键词： | 电子设备 检测 方法 系统 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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