[发明专利]测量装置在审

专利信息
申请号: 202211205504.8 申请日: 2022-09-30
公开(公告)号: CN115900555A 公开(公告)日: 2023-04-04
发明(设计)人: 汤浅太一 申请(专利权)人: 株式会社拓普康
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01C15/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 闫小龙;吕传奇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的测量装置具备:测距光射出部,具有向测定对象物射出测距光的发光部和使所述测距光沿一维方向扩散的一维扩散光学构件;测距光受光部,具有对来自所述测定对象物的反射测距光进行受光的受光元件;以及运算控制部,控制所述发光部,基于针对所述受光元件的所述反射测距光的受光结果运算到所述测定对象物为止的距离,所述发光部具有沿一个方向层叠的至少两个发光元件,所述一维扩散光学构件以使所述测距光沿所述发光元件的层叠方向扩散的方式构成。
搜索关键词: 测量 装置
【主权项】:
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