[发明专利]优先级控制模块的测试装置在审

专利信息
申请号: 202211231297.3 申请日: 2022-10-09
公开(公告)号: CN115576304A 公开(公告)日: 2023-01-06
发明(设计)人: 徐沧;唐国永;韩寅驰;谢子晗;张福举;束轶伦;李灵燚;杨颖 申请(专利权)人: 国核自仪系统工程有限公司
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 上海弼兴律师事务所 31283 代理人: 罗朗;林嵩
地址: 200241 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种优先级控制模块的测试装置,包括:上位机,用于根据预设测试参数生成目标测试指令;信号发生模块,用于接收目标测试指令,并基于目标测试指令给待测模块提供目标测试信号;测量模块,用于接收目标测试指令,并基于目标测试指令测量待测模块的各个目标测试参数;继电器模块,用于接收目标测试指令,并基于目标测试指令生成目标连接方式,目标连接方式对应信号发生模块、测量模块以及接口模块之间的连接关系,以实现对待测模块的测试。本发明通过采用FPGA芯片等继电器模块,实现信号激励复用、信号反馈复用;并根据上位机的预设测试参数,对待测的优先级控制模块进行自动测试,可以提高优先级控制模块测试的准确性和效率。
搜索关键词: 优先级 控制 模块 测试 装置
【主权项】:
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