[发明专利]一种非均质材料微结构参数的量化分析方法在审
| 申请号： | 202211247233.2 | 申请日： | 2022-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN115641926A | 公开（公告）日： | 2023-01-24 |
| 发明（设计）人： | 王君;郇勇;郭志鸿;肖驰;汪芷萱;代玉静;李钰 | 申请（专利权）人： | 中国科学院力学研究所 |
| 主分类号： | G16C60/00 | 分类号： | G16C60/00 |
| 代理公司： | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 | 代理人： | 胡剑辉 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种非均质材料微结构参数的量化分析方法，首先将非均质材料的微结构几何特征依据micro‑CT体素点坐标进行散点化处理；设置非均质材料的代表性计算域，并确保计算域内各个方向上都应至少包含5个微结构特征胞元；通过计算域内微结构的实际体素点数与计算域内的饱和体素点数的比值，计算非均质材料的微结构的体积分数；计算出任意处的非均质材料微结构胞元壁的胞元最小壁厚与最大壁厚；判断非均质材料微结构胞元壁的结构形态类型；计算非均质材料微结构孔隙的特征尺寸；计算单位长度内的非均质材料微结构胞元的数量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 非均质 材料 微结构 参数 量化 分析 方法 | ||
【主权项】：
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