[发明专利]芯片测试方法及相关装置在审
| 申请号： | 202211274503.9 | 申请日： | 2022-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN115542125A | 公开（公告）日： | 2022-12-30 |
| 发明（设计）人： | 王洁;范硕;陈曦 | 申请（专利权）人： | 上海水木蓝鲸半导体技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 杨振礼 |
| 地址： | 201800 上海市嘉*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种芯片测试方法及相关装置，方法包括：在芯片第一次被上电时，获取芯片的待校验信息，待校验信息包括P个备份trim信息；获取芯片的标准信息，标准信息包括P个标准trim信息；将P个备份trim信息与P个标准trim信息进行比对，得到比对成功的Q个备份trim信息；对Q个备份trim信息对应的校验信息进行校验，得到被校验成功的K个备份trim信息；根据被校验成功的K个备份trim信息进行加载操作，得到加载结果标志；启动处理器，读取加载结果标志；在加载结果标志满足预设条件时，确认芯片正常。采用本申请实施例能够提升芯片测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 相关 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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