[发明专利]基于激光刻蚀的横向结构双电极器件阵列的制备方法在审

专利信息
申请号: 202211282445.4 申请日: 2022-10-18
公开(公告)号: CN115566103A 公开(公告)日: 2023-01-03
发明(设计)人: 巫金波;石博日;王萍阳;薛厂;张萌颖;温维佳 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/0224
代理公司: 北京华创智道知识产权代理事务所(普通合伙) 11888 代理人: 彭随丽
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种基于激光刻蚀的横向结构双电极器件阵列的制备方法,利用脉冲激光在刻蚀过程中的光热效应累积,通过脉冲激光刻蚀导电层形成绝缘沟道,同时脉冲激光束附近产生的光热效应破坏沟道两侧的疏液层从而降低其疏液效果,形成热影响区。当将可通过溶液法生长晶体的溶液涂布在基底上时,热影响区的存在保证了溶液可以润湿并完全覆盖激光刻蚀产生的沟道。最后经过沉积形成的晶膜可以横向跨越沟道两侧,形成横向结构的双电极器件。根据本发明的制备方法无需分别进行活性材料以及电极材料的阵列化制备,仅通过激光刻蚀一种图案化过程即可完成,实现大面积、高通量、阵列化横向结构双电极器件的制备。
搜索关键词: 基于 激光 刻蚀 横向 结构 电极 器件 阵列 制备 方法
【主权项】:
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