[发明专利]一种引线框架表面缺陷检测方法、系统、存储介质及终端在审
| 申请号： | 202211288696.3 | 申请日： | 2022-10-20 |
| 公开（公告）号： | CN115760700A | 公开（公告）日： | 2023-03-07 |
| 发明（设计）人： | 黄重钦;王锋涛;查五生;黄斌;宋佳骏 | 申请（专利权）人： | 四川金湾电子有限责任公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/12;G06T7/13;G06T7/62;G06T7/73;G06N3/04;G06N3/084 |
| 代理公司： | 成都华风专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人： | 张巨箭 |
| 地址： | 629000 四川省遂宁*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种引线框架表面缺陷检测方法、系统、存储介质及终端，属于引线框架检测技术领域，通过提取阵列单元图像及其像素值的缺陷判断方式，抗拒图像倾斜能力较强，从而提高了缺陷检测的准确性；通过采用了基于改进Unet的神经网络实现了缺陷的分割，对于肉眼难以辨识，弱小的目标具有很高的检出率，对缺陷进行准确定位；最后通过深度学习的方法对缺陷进行等级判定，从而去除检测后需要的人工复判的工作，提高复判效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 引线 框架 表面 缺陷 检测 方法 系统 存储 介质 终端 | ||
【主权项】：
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