[发明专利]一种基于光束检测定位的同轴度测量装置及测量方法在审
| 申请号： | 202211295298.4 | 申请日： | 2022-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN115585756A | 公开（公告）日： | 2023-01-10 |
| 发明（设计）人： | 董再天;宫经珠;刘瑞星;阴万宏;张云龙;尤越;俞兵;吴磊 | 申请（专利权）人： | 西安应用光学研究所 |
| 主分类号： | G01B11/27 | 分类号： | G01B11/27;G01B11/26;G01B11/02 |
| 代理公司： | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人： | 刘二格 |
| 地址： | 710065 陕西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于光束检测定位的同轴度测量装置，结构为：导轨一安装在第一多维调整台上，准直光源安装在导轨一上，导轨二安装在第二多维调整台上，成像CCD安装在导轨二上；第一多维调整台安装在待测轴一上，第二多维调整台安装在待测轴二上；移动准直光源到位置一，转动待测轴一，成像CCD记录光斑中心位置一；移动准直光源到位置二，转动待测轴一，成像CCD记录光斑中心位置二；通过光斑中心位置一和位置二以及准直光源在导轨上移动的距离，算出待测轴一的轴线位置；同样的方法转动轴二，计算出轴二的位置；将轴一与轴二的位置比较，算出两轴的同轴度误差。本发明结构简单，易于实现，不会引入其他测量误差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光束 检测 定位 同轴 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安应用光学研究所，未经西安应用光学研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202211295298.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
