[发明专利]一种气膜孔分布位置参数的表征与计算方法及装置在审
申请号: | 202211299790.9 | 申请日: | 2022-10-24 |
公开(公告)号: | CN115661235A | 公开(公告)日: | 2023-01-31 |
发明(设计)人: | 毕超;张超;徐微雨;李迪 | 申请(专利权)人: | 中国航空工业集团公司北京航空精密机械研究所 |
主分类号: | G06T7/70 | 分类号: | G06T7/70;G06T7/10;G06F17/18;G06F17/11;G01B11/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100076*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种气膜孔分布位置参数的表征与计算方法,包括:采集气膜孔的图像序列;对图像序列中的每幅图像进行处理,获取气膜孔的三维点云;根据形态特征的不同,将三维点云分割为孔壁点云及孔口局部表面点云;依据空间圆柱面或空间圆锥面对孔壁点云进行最小二乘拟合,得到孔轴线方程;依据空间二次曲面对孔口局部表面点云进行最小二乘拟合,得到孔口二次曲面方程;根据孔轴线方程及孔口二次曲面方程,计算气膜孔的分布位置参数。本发明还涉及一种气膜孔分布位置参数的表征与计算装置。该气膜孔分布位置参数的表征与计算方法及装置的目的是解决目前气膜孔分布位置参数的定义与检测难度大的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 气膜孔 分布 位置 参数 表征 计算方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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