[发明专利]基于单像素成像双目偏折术的物体形貌测量方法在审
| 申请号： | 202211311856.1 | 申请日： | 2022-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN115711592A | 公开（公告）日： | 2023-02-24 |
| 发明（设计）人： | 肖昌炎;黄威;夏立元 | 申请（专利权）人： | 湖南大学 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25;G06T11/20 |
| 代理公司： | 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 | 代理人： | 周长清 |
| 地址： | 410082 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于单像素成像双目偏折术的物体形貌测量方法，包括：步骤S1：基于傅里叶单像素成像原理以及傅里叶中心切片产生多幅水平和垂直的傅里叶基频条纹图像；步骤S2：通过显示屏显示生成的多幅水平和垂直傅里叶基频条纹图案，并通过相机采集经过待测物体表面反射而发生扭曲的傅里叶基频条纹图案；步骤S3：基于单像素成像原理，对相机采集到的图像进行解算；步骤S4：组合为显示屏对应点坐标；步骤S5：基于双目偏折术，通过求得的显示屏坐标，在双目偏折术框架下，迭代重建待测物体上表面三维点云及表面法线，通过波前重构算法得到待测物体表面三维形貌。本发明具有原理简单、操作简便、抗干扰能力强、适用范围广等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 像素 成像 双目 偏折术 物体 形貌 测量方法 | ||
【主权项】：
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