[发明专利]一种平板探测器信号串扰校正装置及方法在审

专利信息
申请号: 202211313353.8 申请日: 2022-10-25
公开(公告)号: CN115778415A 公开(公告)日: 2023-03-14
发明(设计)人: 安康;段晓礁;周日峰;卢艳平 申请(专利权)人: 重庆大学
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;A61B6/00
代理公司: 重庆市嘉允启行专利代理事务所(普通合伙) 50243 代理人: 胡柯
地址: 400044 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 本申请提供一种平板探测器信号串扰校正装置及方法,所述装置包括X射线源、平板探测器,以及设置在平板探测器与X射线源之间、紧贴平板探测器放置的校正单元,所述校正单元包括环形刻度盘、旋转组件、长方形金属薄片。所述方法步骤为:固定装置;确定方阵阶数,并计算成像次数及旋转角度;按照预定角度依次旋转校正装置,采集投影图像,并计算投影图像的线扩散向量;利用线扩散向量迭代计算反卷积校正方阵;利用反卷积校正方阵去除投影图像串扰。本申请应用校正装置和校正方法,通过简单的步骤获得准确的平板探测器PSF以校正平板探测器信号串扰,提升投影图像分辨率。
搜索关键词: 一种 平板 探测器 信号 校正 装置 方法
【主权项】:
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