[发明专利]偏振态检测方法和偏振态检测系统在审

专利信息
申请号: 202211319567.6 申请日: 2022-10-26
公开(公告)号: CN115752734A 公开(公告)日: 2023-03-07
发明(设计)人: 梁华伟;蒋钊;李玲;张敏;苏红 申请(专利权)人: 深圳大学
主分类号: G01J4/00 分类号: G01J4/00
代理公司: 深圳市力道知识产权代理事务所(普通合伙) 44507 代理人: 韦永吉
地址: 518060 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请涉及电磁波领域,具体提供了一种偏振态检测方法和装置,该方法利用偏振态检测器件进行检测,该方法包括:将待检测波束输入偏振态检测器件,得到正交的第一贝塞尔波束和第二贝塞尔波束;利用偏振片获取第一贝塞尔波束和第二贝塞尔波束干涉图样中干涉减弱区域或干涉增强区域对应的方位角,根据方位角确定第一贝塞尔波束和第二贝塞尔波束的相位差;利用偏振片分别获取第一贝塞尔波束的第一振幅和第二贝塞尔波束的第二振幅,根据第一振幅和第二振幅得到振幅比;根据相位差和振幅比计算出待检测波的偏振态。通过该偏振态检测方法,能够简化太赫兹与毫米波的偏振态检测过程,促进了检测设备小型化和集成化。
搜索关键词: 偏振 检测 方法 系统
【主权项】:
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