[发明专利]一种散射计风场同化的质控方法、系统、存储介质及设备有效

专利信息
申请号: 202211322039.6 申请日: 2022-10-27
公开(公告)号: CN115391685B 公开(公告)日: 2023-03-24
发明(设计)人: 陈耀登;崔叶孟 申请(专利权)人: 南京信息工程大学
主分类号: G06F16/9537 分类号: G06F16/9537;G06F16/215;G06F17/10;G01W1/00
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 何春廷
地址: 210044 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种散射计风场同化的质控方法、系统、存储介质及设备,包括:获取用于进行同化分析的观测位置处t时刻的散射计风场观测资料;提取t时刻的散射计风场观测资料的背景场中的降雨率;将该降雨率与预先确定的背景场降雨率进行比较,若大于背景场降雨率,则将t时刻的散射计风场观测资料标记为错误观测,不参与同化,否则,参与同化。优点:本发明使用背景场降雨率对散射计风场观测资料进行质控,可以进一步剔除观测资料中的降雨污染,有效补充质控中存在的不足,改进Ku波段散射计的同化水平,从而改进分析和预报水平。
搜索关键词: 一种 散射 计风场 同化 方法 系统 存储 介质 设备
【主权项】:
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