[发明专利]一种晶圆片厚度大量程、高精度快速解算方法在审
申请号: | 202211361994.0 | 申请日: | 2022-11-02 |
公开(公告)号: | CN115682964A | 公开(公告)日: | 2023-02-03 |
发明(设计)人: | 孙新磊;胡春光;王子政;胡晓东;翟聪;袁禹聪;姚程源;税旭青 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 程毓英 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明涉及一种晶圆片厚度大量程、高精度快速解算方法,包括下列步骤:确定待测晶圆片在测量波长下的折射率;获得待测晶圆片反射光电场矢量的光学模型;获得傅里叶变换法和希尔伯特变换法的适用区间;对于待测晶圆片,获得其光学厚度初值;若光学厚度初值大于设定阈值,则通过希尔伯特变换法求取待测晶圆片的物理厚度;否则,通过傅里叶变换法求取待测晶圆片的物理厚度。 | ||
搜索关键词: | 一种 晶圆片 厚度 量程 高精度 快速 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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