[发明专利]一种接触传感器寿命测试装置及测试方法在审
| 申请号： | 202211367538.7 | 申请日： | 2022-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN115683193A | 公开（公告）日： | 2023-02-03 |
| 发明（设计）人： | 李文华;张勇;张克远;高开明;李存慧 | 申请（专利权）人： | 河北华尚文优电子科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00;G01D11/00 |
| 代理公司： | 天津市鼎拓知识产权代理有限公司 12233 | 代理人： | 刘雪娜 |
| 地址： | 050000 河北省石家庄市*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本申请提供一种接触传感器寿命测试装置及测试方法，其中接触传感器寿命测试装置包括：基座本体；设于基座本体上的用于固定接触传感器的夹持组件，接触传感器具有断开状态和闭合状态；设于所述基座本体上的触发组件，触发组件可向靠近或远离接触传感器的方向移动；当触发组件碰触到接触传感器时，处于闭合状态，当触发组件脱离接触传感器时，处于所述断开状态；设于基座本体的一侧的驱动组件，用于驱动触发组件沿第一方向移动；各所述接触传感器电连接的控制组件，用于监控各接触传感器的状态并记录接触传感器的动作次数；进而得到接触传感器的寿命，与手持接触传感器做动作测试相比，提高了工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 接触 传感器 寿命 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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