[发明专利]一种测定微纳米颗粒表面电荷密度的方法在审
| 申请号： | 202211371075.1 | 申请日： | 2022-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN115656266A | 公开（公告）日： | 2023-01-31 |
| 发明（设计）人： | 刘新敏;李航;田锐;唐颖;李睿;王琳 | 申请（专利权）人： | 西南大学 |
| 主分类号： | G01N27/00 | 分类号： | G01N27/00;G01N27/42;G06F30/20 |
| 代理公司： | 四川省方圆智云知识产权代理事务所(普通合伙) 51368 | 代理人： | 严晓玲 |
| 地址： | 400712*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测定微纳米颗粒表面电荷密度的方法，该方法首先利用光散射技术测定给定电解质类型和温度下的微纳米颗粒的临界聚沉浓度；其后，在该浓度条件下，计算颗粒间的静电斥力和长程分子引力的合力，并确定该条件下的颗粒表面电位；最后根据所得表面电位得到颗粒的表面电荷密度。本发明可通过激光散射仪对临界聚沉浓度的测定，准确计算获得微纳米颗粒表面电荷密度，不需分别在气相介质中测定颗粒的外表面积和在液相介质下测定颗粒的表面电荷数量，再计算表面电荷密度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测定 纳米 颗粒 表面 电荷 密度 方法 | ||
【主权项】：
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