[发明专利]晶圆的切割方法在审
申请号: | 202211380570.9 | 申请日: | 2022-11-04 |
公开(公告)号: | CN115592277A | 公开(公告)日: | 2023-01-13 |
发明(设计)人: | 李青哲;黄玉录;黄仁耀;苏育生 | 申请(专利权)人: | 常州承芯半导体有限公司 |
主分类号: | B23K26/38 | 分类号: | B23K26/38;B23K26/70;B23K101/40 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 张瑞 |
地址: | 213166 江苏省常州市武*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种晶圆的切割方法,包括:提供晶圆,所述晶圆包括若干相互分立的主芯片区、以及位于相邻所述主芯片区之间的切割道区,所述主芯片区内具有器件结构,所述切割道区内具有切割道;在所述切割道区的顶部表面、以及所述切割道的侧壁和底部表面形成第一切割保护层,所述第一切割保护层的材料包括金属氧化物;在形成所述第一切割保护层之后,沿所述切割道对所述晶圆进行切割处理,使得所述晶圆形成若干所述芯片。由于所述第一切割保护层的材料为金属氧化物,能够有效减少在对晶圆进行激光切割时产生的烧结物,进而减少芯片表面附着烧结物,以此提升产品的良率。 | ||
搜索关键词: | 切割 方法 | ||
【主权项】:
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