[发明专利]一种评估微颗粒堆积物粒径参数的方法及系统在审
| 申请号： | 202211385917.9 | 申请日： | 2022-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN115718054A | 公开（公告）日： | 2023-02-28 |
| 发明（设计）人： | 李亚举;钱东斌;周毛吉;陈良文;马新文;杨磊;张少锋 | 申请（专利权）人： | 先进能源科学与技术广东省实验室;中国科学院近代物理研究所 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 曹凤娜 |
| 地址： | 516025 广东省惠州*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种评估微颗粒堆积物粒径参数的方法及系统，所述方法包括步骤：通过脉冲激光辐照微颗粒堆积物表面，以诱导激光等离子体的产生；捕获通过激光等离子体流场加速形成的颗粒射流；对捕获到的颗粒射流进行分析，以获取颗粒射流速度或动能参数；根据获取的颗粒射流速度或动能参数获取颗粒直径，以得到颗粒射流速度与微颗粒堆积物的粒径参数之间存在的对应关系；采用颗粒射流速度作为可观测探针，评估出微颗粒堆积物的粒径参数信息。本发明将颗粒射流速度作为微颗粒堆积物的粒径参数的可观测探针，可快速、原位、遥感监测微颗粒堆积物粒径参数。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 评估 颗粒 堆积物 粒径 参数 方法 系统 | ||
【主权项】：
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