[发明专利]一种芯片测试设备在审
申请号: | 202211399799.7 | 申请日: | 2022-11-09 |
公开(公告)号: | CN115532631A | 公开(公告)日: | 2022-12-30 |
发明(设计)人: | 孙征 | 申请(专利权)人: | 无锡祺芯半导体科技有限公司 |
主分类号: | B07C5/02 | 分类号: | B07C5/02 |
代理公司: | 合肥市科融知识产权代理事务所(普通合伙) 34126 | 代理人: | 王前程 |
地址: | 214174 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种芯片测试设备,涉及芯片测试技术领域,包括机架、输送带、驱动组件、传动组件、第一拨正组件和第二拨正组件,驱动组件内设置有传动带,传动组件包括与传动带啮合连接的传动齿轮;以及与传动齿轮同轴连接的牵引部,第一拨正组件内设置有与传动组件活动连接的摆臂;以及连接在摆臂上的拨动轮,第二拨正组件内设置有与牵引部连接的滑杆;以及连接在滑杆上的拨动块,驱动组件中的传动带通过传动齿轮不仅能够带动牵引部运动,还能够带动摆臂运动,牵引部和摆臂分别通过拨动块和拨动轮朝着靠近输送带的中部以及朝着输送带的前进方向拨动芯片,不仅能够防止芯片发生倾斜,还能够防止芯片被卡死,具备防卡死效果好的特点。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 测试 设备 | ||
【主权项】:
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