[发明专利]一种芯片测试设备在审

专利信息
申请号: 202211399799.7 申请日: 2022-11-09
公开(公告)号: CN115532631A 公开(公告)日: 2022-12-30
发明(设计)人: 孙征 申请(专利权)人: 无锡祺芯半导体科技有限公司
主分类号: B07C5/02 分类号: B07C5/02
代理公司: 合肥市科融知识产权代理事务所(普通合伙) 34126 代理人: 王前程
地址: 214174 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种芯片测试设备,涉及芯片测试技术领域,包括机架、输送带、驱动组件、传动组件、第一拨正组件和第二拨正组件,驱动组件内设置有传动带,传动组件包括与传动带啮合连接的传动齿轮;以及与传动齿轮同轴连接的牵引部,第一拨正组件内设置有与传动组件活动连接的摆臂;以及连接在摆臂上的拨动轮,第二拨正组件内设置有与牵引部连接的滑杆;以及连接在滑杆上的拨动块,驱动组件中的传动带通过传动齿轮不仅能够带动牵引部运动,还能够带动摆臂运动,牵引部和摆臂分别通过拨动块和拨动轮朝着靠近输送带的中部以及朝着输送带的前进方向拨动芯片,不仅能够防止芯片发生倾斜,还能够防止芯片被卡死,具备防卡死效果好的特点。
搜索关键词: 一种 芯片 测试 设备
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡祺芯半导体科技有限公司,未经无锡祺芯半导体科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202211399799.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top