[发明专利]基于光电扫描与绝对测距的单站多目标空间坐标测量方法在审
| 申请号： | 202211412438.1 | 申请日： | 2022-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN115856905A | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | 杨凌辉;邾继贵;杨朔;吴腾飞 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01S17/10 | 分类号： | G01S17/10;G01S17/42;G01S17/66 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 李林娟 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于光电扫描与绝对测距的单站多目标空间坐标测量方法，包括：构建一体式测量基站和合作靶标，标定测量基站上光电扫描模块与绝对测距模块的相对位置，标定光电接收单元与光学反射单元在合作靶标上的位置；获取扫描光平面的旋转角度及法向量，以光学反射单元的中心位置为目标测量点，计算目标测量点的粗测坐标；绝对测距模块依据粗测坐标引导测距光束对准光学反射单元的中心位置，测量光学反射单元与绝对测距模块之间的距离；建立坐标测量模型，计算目标测量点的精确空间坐标。本发明实现了单站测量设备对空间多目标的自动坐标测量。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光电 扫描 绝对 测距 多目标 空间 坐标 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津大学，未经天津大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202211412438.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
