[发明专利]一种基于辅助特征点的双目相位偏折测量方法及装置

摘要

本发明涉及双目相位偏折测量领域，尤其涉及一种基于辅助特征点的双目相位偏折测量方法及装置，所述一种基于辅助特征点的双目相位偏折测量方法包括：S1、调整第一相机、第二相机、屏幕、基础特征点与待测物体至测量位置；S2、利用所述第一相机采集待测物体的相移图像得到第一相机的屏幕像素点；S3、利用所述第二相机获取待测物体对应初始特征点的法向量；S4、利用所述第一相机的屏幕像素点与待测物体对应初始特征点的法向量得到待测物体的测量特征点；S5、利用所述待测物体的测量特征点得到待测物体的测量结果，减轻屏幕平面度对检测精度的影响，提高传统双目相位偏折测量技术的鲁棒性，并在一定程度上减轻重量，简化结构。