[发明专利]平板屏隙尺寸精密测量方法、系统、介质、设备及终端在审
| 申请号： | 202211440246.1 | 申请日： | 2022-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN115775230A | 公开（公告）日： | 2023-03-10 |
| 发明（设计）人： | 胡新宇;王福生;刘锡阳;张骏巍;宋连 | 申请（专利权）人： | 武汉理工大学重庆研究院;湖北工业大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/48;G06V10/44;G06V10/25;G06T7/136;G06T7/13 |
| 代理公司： | 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 | 代理人： | 张晓博 |
| 地址： | 401121 重庆*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明属于平板屏隙尺寸测量技术领域，公开了一种平板屏隙尺寸精密测量方法、系统、介质、设备及终端，通过灰度化和设置感兴趣区域，从k个子块中进行像素统计；通过基于分块统计的区域提取与分割获取R区外边缘区域；通过基于二分法的自适应霍夫直线检测实现R区局部图像中外边缘的精确定位；将二分法应用于Hough变换，使得Hough变换适应所有的屏隙局部图像并完成自适应直线检测。本发明通过灰度化和设置感兴趣区域，减少了图像的复杂性和突出了检测目标的占比，提高了图像算法的执行时间，提高了效率；通过区域提取使得后续算法可以较好地处理外边缘，排除其他边缘的干扰；通过自适应阈值分割，提高了算法的准确性和分割的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 平板 尺寸 精密 测量方法 系统 介质 设备 终端 | ||
【主权项】：
暂无信息
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