[发明专利]一种基于改进YOLOv5的PCB板表面缺陷检测方法在审

专利信息
申请号: 202211451316.3 申请日: 2022-11-20
公开(公告)号: CN115719338A 公开(公告)日: 2023-02-28
发明(设计)人: 王成;张嘉鹏;王英民;刘思杰;王奇;陶林伟;郑琨;黄爱萍 申请(专利权)人: 西北工业大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06N3/0464;G06N3/08;G06N3/048;G06V10/764;G06V10/82
代理公司: 西安凯多思知识产权代理事务所(普通合伙) 61290 代理人: 刘涛
地址: 71007*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于改进YOLOv5的PCB板表面缺陷检测方法,改进YOLOv5的特征融合网络PANet为BiFPN结构,且添加了SimAM注意力机制,对空间金字塔池化模型SPPF优化后为SPPFCSPC模型,并且缩减了head中用于检测中、大目标的P4、P5结构,使其能够更加准确提取并检测小目标的缺陷,来弥补缺陷检测尺度不足的问题,同时为了进一步解决小目标缺陷检测,优化了训练方法,采用迁移学习的方法,对训练网络的训练权重和参数进行多重迁移化处理,使得短期训练的程度更加充分。
搜索关键词: 一种 基于 改进 yolov5 pcb 表面 缺陷 检测 方法
【主权项】:
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