[发明专利]一种沟槽型SiC MOSFET元胞结构、制备方法及功能电路在审

专利信息
申请号: 202211457913.7 申请日: 2022-11-21
公开(公告)号: CN115911132A 公开(公告)日: 2023-04-04
发明(设计)人: 张伟;廖光朝 申请(专利权)人: 重庆云潼科技有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/423;H01L29/16;H01L21/336
代理公司: 四川知研律师事务所 51352 代理人: 李位全
地址: 400000 重庆市江*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明公开了一种沟槽型SiC MOSFET元胞结构、制备方法及功能电路,该元胞结构在栅沟槽之间增加一个源沟槽,所述源沟槽的底部形成若干间隔的P岛,所述源沟槽内填充肖特基金属;所述P岛在SiC MOSFET承受反向耐压时,SiC MOSFET的耗尽层扩展,降低栅沟槽底部的电场强度,提升器件的可靠性,且所述源沟槽内的肖特基金属与所述P岛形成欧姆接触,与N‑外延区域的非P岛区形成肖特基接触,使体二极管的阳极同时包含有肖特基和欧姆接触。本发明提供的沟槽型SiC MOSFET元胞结构的体二极管的元胞结构同时包含有肖特基和欧姆接触,降低了正向导通压降,同时,减小了正面注入效率,降低了反向恢复损耗。
搜索关键词: 一种 沟槽 sic mosfet 结构 制备 方法 功能 电路
【主权项】:
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