[发明专利]光学元件检测方法、系统和应用在审
| 申请号： | 202211473751.6 | 申请日： | 2022-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN115791794A | 公开（公告）日： | 2023-03-14 |
| 发明（设计）人： | 何长龙;关金亮;张灿忠;张伟 | 申请（专利权）人： | 福耀玻璃工业集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 崔博 |
| 地址： | 350300 福*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种光学元件检测方法、系统和应用，该方法包括：采集受测光学元件的点云数据；根据点云数据进行拟合重构，得到自由曲面数据；对自由曲面数据进行仿真计算，得到虚像受测图案；根据虚像受测图案进行质量检测，得到受测光学元件的质量检测结果，通过对受测光学元件的自由曲面进行仿真计算得到虚像受测图案，通过虚像受测图案得到受测光学元件的质量检测结果，通过仿真技术替代实际用于检测的光学元件和摄像机，能够简化检测过程，降低甚至消除了多个部件累积的系统偏差，提高检测准确率和检测效率，实现低成本、高精度地检测光学元件。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 元件 检测 方法 系统 应用 | ||
【主权项】：
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