[发明专利]基于达曼光栅的全光场斯托克斯参数测量装置和方法在审
| 申请号： | 202211476306.5 | 申请日： | 2022-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN115931131A | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 唐凡春;步扬;吴芳;王向朝 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J4/00 | 分类号： | G01J4/00 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种基于达曼光栅的全光场斯托克斯参数测量装置和方法，属于偏振测量领域。基于达曼光栅的全光场斯托克斯参数的测量方法所采用的测量，该装置包括：激光器，第一线偏振片，偏振器件，达曼光栅，第一透镜，第一半波片，第二半波片，第三半波片，四分之一波片，波片载具，第二透镜，第三透镜，第二线偏振片以及CCD相机；激光的出射光束通过第一线偏振片和偏振器件后生成偏振光束，通过达曼光栅后被均匀分束成四束相同的光束，四束光分别通过四个不同的波片，最后通过第二线偏振片后被CCD相机采集。根据CCD相机单次采集的四束光强分布就能够测量得到偏振光束的全场斯托克斯参数，并能够进一步重建得到全场的偏振态分布。本发明技术可以对动态变化的偏振光束进行实时的斯托克斯参数测量。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光栅 全光场 斯托 参数 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所，未经中国科学院上海光学精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202211476306.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
