[发明专利]一种基于电光偏转晶体的超短脉冲时间切片测量装置和方法在审
| 申请号： | 202211477466.1 | 申请日： | 2022-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN115824432A | 公开（公告）日： | 2023-03-21 |
| 发明（设计）人： | 朱健强;徐英明;潘良泽;陶华;刘诚 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00;G01J9/00 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种基于电光偏转晶体的超短脉冲时间切片测量装置和方法，超短脉冲光源发出的脉冲光经过起偏器起偏，然后经过电光晶体偏转形成在空间上时间拉伸的衍射光斑。用强度探测器记录该衍射光斑，然后利用多模态相位恢复算法将不同时间的脉冲复振幅信息重建出来。探测器记录的衍射光斑为编码板调制后的衍射光斑，编码板的调制提升了相位恢复算法的收敛性能。最后利用控制及数据处理模块对光强探测器记录的光斑进行迭代运算，可以获得超短脉冲在不同时间的复振幅时间，进而可以测量其时空耦合情况。本发明可以测量超短脉冲不同时间下的复振幅信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 电光 偏转 晶体 超短 脉冲 时间 切片 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
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