[发明专利]颗粒模型适配程度的参数获取方法、装置、设备及介质在审
| 申请号： | 202211522645.2 | 申请日： | 2022-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN115758954A | 公开（公告）日： | 2023-03-07 |
| 发明（设计）人： | 潘林英;刘海亮 | 申请（专利权）人： | 江苏芯盛智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/327 | 分类号： | G06F30/327;G06F30/33 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 姚大雷 |
| 地址： | 213000 江苏省常州市武进区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供了一种颗粒模型适配程度的参数获取方法、装置、设备及介质，涉及芯片验证技术领域，通过获取各颗粒模型的名称标识；根据各所述名称标识加载各颗粒模型相应的宏信息；根据各所述宏信息将各颗粒模型与RTL代码进行信号连接；根据各所述宏信息获取各所述颗粒模型相应的模型配置参数，其中，所述模型配置参数包括环境初始化参数、命令执行参数和结果判定参数，通过获取个颗粒模型相应的配置参数，可以自动适配各颗粒模型来验证芯片功能对不同颗粒模型的支持效果，提高了验证效率。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 模型 程度 参数 获取 方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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