[发明专利]用于检查激光扫描仪的光学表面的检查系统和方法在审
| 申请号： | 202211539899.5 | 申请日： | 2022-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN116718610A | 公开（公告）日： | 2023-09-08 |
| 发明（设计）人： | F·蔡;R·卡拉瓦 | 申请（专利权）人： | 波音公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 张全信 |
| 地址： | 美国伊*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本公开提供了用于检查激光扫描仪的光学表面的检查系统和方法，该系统包括定向光源和光学探测器。该方法包括在光学表面和光学探测器之间，将激光扫描仪或检查系统之一移动到其中定向光源的光束轴延伸越过光学表面但不与其相交的位置。方法进一步包括从定向光源发射光束，越过光学表面以便来自光束的光入射到位于光学表面上的碎片上。方法进一步包括在光学探测器处收集光以形成表明在激光扫描仪的光学表面上存在碎片的图像；以及产生反馈以提醒用户存在碎片。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检查 激光 扫描仪 光学 表面 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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