[发明专利]一种LED芯片巨量转移用测转实时共位的检测装置在审
申请号: | 202211548336.2 | 申请日: | 2022-12-05 |
公开(公告)号: | CN115763319A | 公开(公告)日: | 2023-03-07 |
发明(设计)人: | 刘强;王和标;焦飞腾;王伟;马宁;牛萍娟;桑建 | 申请(专利权)人: | 北京石油化工学院;北京海炬电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/68;H01L25/075 |
代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人: | 郑立明;赵镇勇 |
地址: | 102600 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种LED芯片巨量转移用测转实时共位的检测装置,由芯片转移系统、对位系统和光学检测系统三部分组成,芯片转移系统包括:平台底座、立柱支座、激光头立柱、激光头纵向锁紧环、激光头固定座、激光头横向底板、激光头导轨、激光头连接板和激光头;对位系统包括:芯片载板支撑台、芯片载板对位平台、芯片载板组件、目标基板对位平台垫板、目标基板对位平台和目标基板;光学检测系统包括:检测底板、检测装置立柱、万向支架组件、调焦组件和检测相机组件。本发明利用成对正交安装的CCD工业相机,检测激光头在光源照射下两条投影线反向延长交点,通过识别投影交点、目标晶位和芯片三者间是否共线,实现芯片测转实时共位,提升了芯片效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 led 芯片 巨量 转移 用测转 实时 检测 装置 | ||
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造