[发明专利]基于蒙卡的氦氙小型堆精确截面均匀化方法在审

专利信息
申请号: 202211563911.6 申请日: 2022-12-07
公开(公告)号: CN115828598A 公开(公告)日: 2023-03-21
发明(设计)人: 张滕飞;李相越;刘晓晶;柴翔;熊进标;何辉 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G21D3/00;G06F111/08
代理公司: 上海交达专利事务所 31201 代理人: 王毓理;王锡麟
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种基于蒙卡的氦氙小型堆精确截面均匀化方法,基于蒙特卡洛计算方法对氦氙冷却小型反应堆进行二维全堆芯建模以描述堆芯的几何和材料分布,并根据核反应率守恒原理统计不同材料区域的少群均匀化截面;基于含铍材料区的(n,xn)截面对少群均匀化截面进行修正,以考虑铍反射层的中子学特性;再通过循环计算超级均匀化因子并迭代更新少群均匀化截面,实现进一步修正。本发明能够显著降低氦氙冷却小型反应堆的截面均匀化的误差,对于开展氦氙冷却小型反应堆的堆芯物理计算具有重要作用。
搜索关键词: 基于 小型 精确 截面 均匀 方法
【主权项】:
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