[发明专利]针对高精密科学装置的环境微振动评价方法及存储介质在审

专利信息
申请号: 202211575097.X 申请日: 2022-12-08
公开(公告)号: CN116257720A 公开(公告)日: 2023-06-13
发明(设计)人: 顾晓强;刘鑫;吴德顺;胡靖 申请(专利权)人: 同济大学
主分类号: G06F17/10 分类号: G06F17/10
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 翁惠瑜
地址: 200092 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明涉及一种针对高精密科学装置的环境微振动评价方法及存储介质,所述方法包括以下步骤:采集待评价环境的环境微振动信号;应用功率谱法对所述环境微振动信号进行处理,获得对应的第一功率谱密度函数;将所述第一功率谱密度函数转化为振动速度的第二功率谱密度函数;根据第二功率谱密度函数计算高精密科学装置全频率范围内的速度均方根;将高精密科学装置的评价指标转化为速度指标;基于所述速度均方根和速度指标的比较,获得待评价环境的环境微振动评价结果。与现有技术相比,本发明提高了高精密科学装置环境微振动分析与评价的可靠性。
搜索关键词: 针对 精密 科学 装置 环境 振动 评价 方法 存储 介质
【主权项】:
暂无信息
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