[发明专利]基于一阶矢量扰动理论的多涂层目标偏振测量装置与方法有效
| 申请号： | 202211575647.8 | 申请日： | 2022-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN115656051B | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 战俊彤;刘承麟;张肃;付强;李英超;段锦 | 申请（专利权）人： | 长春理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/21 | 分类号： | G01N21/21;G01V8/10;G01J4/00;G06F17/16;G06T7/00 |
| 代理公司： | 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211 | 代理人： | 付宏璇 |
| 地址： | 130022 *** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 基于一阶矢量扰动理论的多涂层目标偏振测量装置与方法，涉及多涂层目标的探测与识别技术领域，解决了现有技术缺少对多涂层目标探测和识别的问题。所述装置包括光源装置、偏振相机、接收装置、控制装置、静态测量导轨、机械转台、动态测量导轨、轴承支架和底座；所述光源装置和接收装置均安装在动态测量导轨上；所述偏振相机安装在静态测量导轨上；所述光源装置、接收装置和机械转台均与控制装置连接；所述静态测量导轨和动态测量导轨的两端均与轴承支架连接所述机械转台固定在轴承支架上；所述轴承支架固定在底座上。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 一阶 矢量 扰动理论 涂层 目标 偏振 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
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